Hintergrund-Schlieren-Methode (BOS)

Die Hintergrund-Schlieren-Methode (BOS) ist eine moderne, optische Messtechnik zur dreidimensionalen Bestimmung von Dichteverteilungen in Gasen. Sie kombiniert einfache Hardwareanforderungen mit präzisen Auswertemethoden und bietet im Vergleich zu klassischen Verfahren einen deutlich vereinfachten experimentellen Aufbau.

Beschreibung

Einsatzgebiete

  • Dichteanalyse: Präzise Vermessung dreidimensionaler Dichteverteilungen in Gasen.
  • Temperaturberechnung: Ableitung von Temperaturverteilungen durch Kombination von Dichtemessungen und Druckdaten mit der idealen Gasgleichung.

Funktionsweise und Vorteile

  • Arbeitsprinzip: BOS basiert auf der Ablenkung von Lichtstrahlen durch Dichtegradienten im Gas. Diese verursachen sichtbare Verschiebungen in einem zufällig strukturierten Punktmuster, das als Hintergrund dient.
  • Ablauf: Ein Referenzbild ohne Messobjekt wird mit einem Messbild des Dichtefeldes verglichen. Die Verschiebungen werden mittels Kreuzkorrelationsalgorithmen analysiert, um den Brechungsindex zu bestimmen.
  • 3D-Dichteverteilungen: Tomographische Algorithmen und die Gladstone-Dale-Beziehung ermöglichen die Rekonstruktion des dreidimensionalen Dichtefeldes.
  • Vorteile: Einfache Implementierung, kosteneffiziente Komponenten, Einsatz bei unterschiedlichsten Gasen und Geometrien möglich.

Technische Details

  • Hintergrund: Zufällig verteiltes Punktmuster für optische Analysen.
  • Kamerasystem: Hochauflösende Aufnahme von Referenz- und Messbildern.
  • Rechenverfahren: Kreuzkorrelationsalgorithmen zur Punktverschiebungsanalyse, gefolgt von tomographischen Rückprojektionen für dreidimensionale Dichteinformationen.
  • Erweiterte Anwendungen: Kombination mit Druckmessungen erlaubt Temperaturbestimmungen durch die ideale Gasgleichung.